EDX8000能量色散X荧光光谱仪高精密定位测量系统，用于RoHS检测和镀层检测。在镀层检测中，该款仪器可以惊奇地逐点测试被测对象，并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱。◆◆技术指标:◆分析精度: 0.05% ◆分析含量范围：1PPM-99.99% ◆测量元素：从硫至铀等75种元素◆测量对象：粉末、固体、液体◆分析电镀溶液中金属离子浓度◆可分析10层以上的镀层◆测试镀层薄至0.005um◆步进小距离：0.01mm◆测量时间：60~300秒◆工作温度：15~30°C◆相对湿度：< 70%◆重量：30KG◆工作电压：AC 110/220V◆◆配置：◆单样品腔计 ◆算机、喷墨打印机 ◆硅针半导体探测器 ◆放大电路 ◆高低压电源 ◆X光管 ◆双激光定位系统 ◆50至100倍物体放大