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x射线光谱仪XDL 210

x射线光谱仪X-RAY XDL 210是通过X射线来测量金属镀层的厚度,也可以测量合金和电解溶液的成份,是电镀企业的测量工具。通常x射线光谱仪X-RAY XDL 210也可以叫做X射线镀层测

  • 产品单价:面议
  • 品牌名称:

  • 产地:

    江苏 苏州市

  • 产品类别:

    光谱仪

  • 有效期:

    长期有效

  • 发布时间:

    2018-11-10 11:24

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产品参数

起订:1 供货总量:573
发货期限:自买家付款之日起 1 天内发货 所在地:江苏 苏州市
有效期至:长期有效 品牌:

详情介绍

x射线光谱仪X-RAY XDL 210是通过X射线来测量金属镀层的厚度,也可以测量合金和电解溶液的成份,是电镀企业的测量工具。通常x射线光谱仪X-RAY XDL 210也可以叫做X射线镀层测厚仪,x-ray光谱仪,x-ray荧光光谱分析仪等等。射线光谱仪X-RAY XDL 210是德国菲希尔fisher公司生产,全称FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行*测量。由于采用了Fischer 基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。多可同时测量从氯(17)到铀(92)中的24 种元素。XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。x射线光谱仪X-RAY XDL 210典型的应用领域有:测量大规模生产的电镀部件测量薄镀层,例如装饰铬测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层全自动测量,如测量印刷线路板分析电镀溶液x射线光谱仪X-RAY XDL 210设计理念FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。x射线光谱仪X-RAY XDL 210:平面样品平台,固定的Z 轴系统高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以精确定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计,可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如大型的线路板。所有的操作,测量数据的计算,以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成的。XDL 型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器,型式许可符合德国“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法规规定。XDL3x射线光谱仪X-RAY XDL 210通用规范用途能量色散X 射线荧光光谱仪(EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构,分析合金和微量组分。元素范围多同时测量从氯(Cl 17)到铀(U 92)之间的24 种元素设计理念台式仪器,测量门向上开启测量方向从上到下X 射线源X 射线源带铍窗口的钨管高压三种高压:30 kV,40 kV,50 kV,可调整孔径(准直器)Ø 0.3 mm (可选:圆形Ø 0.1 mm;Ø 0.2 mm;长方形0.3 mmx 0.05 mm)测量点取决于测量距离及使用的准直器大小;实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。小的测量点大小约Ø 0.16mm.测量距离,如测量腔体内部0 ~ 80 mm,未校准范围,使用保护的DCM 功能0 ~ 20 mm,已校准范围,使用保护的DCM 功能X 射线探测X 射线接收器比例接收器样品定位视频显微镜高分辨CCD 彩色摄像头,用于查看测量位置手动调焦或自动聚焦十字线刻度和测量点大小经过校准测量区域照明亮度可调激光点用于精确定位样品放大倍数20x ~ 180x (光学变焦: 20x ~ 45x; 数字变焦: 1x 2x 3x 4x)样品台XDL 210设计固定式样品平台移动范围-X/Y 平台移动速度-X/Y 平台移动重复精度-Z 轴移动范围-可用样品放置区域463 x 500 mm样品重量20 kg样品高度155/90/25 mm激光定位点-FISCHERSCOPE X-RAY XDL镀层厚度材料分析显微硬度材料测试x射线光谱仪X-RAY XDL 210电气参数电压,频率AC 115 V 或AC 230 V 50 / 60 Hz功率120 W (不包括计算机)保护等级IP40x射线光谱仪X-RAY XDL 210仪器规格外部尺寸宽x 深x 高[mm]:570 x 760 x 650重量XDL210:90 kg;XDL220:95 kg;XDL230:105 kg;XDL240:120 kg内部测量室尺寸宽x 深x 高[mm]: 460 x 495 (参考“样品高度”部分的说明)环境要求操作温度10°C–40°C /50°F –104°F储藏或运输温度0°C–50°C /32°F –122°F空气湿度≤ 95 %,无结露计算系统计算机带扩展卡的计算机系统软件标准:WinFTM® V.6 LIGHT可选:WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPERx射线光谱仪X-RAY XDL 210执行标准CE 合格标准EN 61010X 射线标准DIN ISO 3497 和ASTM B 568型式许可安全而保护全面的测量仪器,型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规规定。如有特殊要求,可于Fischer 磋商,定制特殊的XDL 型号。更多产品信息:http://www.ferrite-ndt.com/

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