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详情介绍
SGW X-4显微熔点仪：特点：测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之熔点测定，显微镜观察。既可用毛细管示测定，又可用载玻片－盖玻片法(热台法)测定。 熔点测量范围：室温至320℃测量重复性：≤ 200℃： ±1℃， ＞200℃： ±2℃光学放大倍数：目镜10X，物镜4X
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粤公网安备44030402000848号
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