有害元素X射线荧光分析装置XGT-1000WR 高灵敏度Cd/Pd有害元素分析装置新登场对应WEEE / RoHS 指令 XGT-1000WR是针对于小型电子产品所含有的有害元素，进行快速简单分析所开发的*分析仪器。(主要是针对于WEEE / RoHS指令)应用堀场制作所多年的X射线分析技术，将X射线聚集成小1.2mm的射线束, 使得X射线的强度提高了近10倍。可以对微小区域的（1.2mm）上的有害元素实现*的检出(镉的检出精度可达2ppm)。另外,通过CCD摄像机可以边看画面边*分析点,操作非常简单. 配备的大型样品室还可以对长的导线以及类似于电视机的外壳等大型样品进行非破坏性分析。 ●采用Φ1mm X射线导管(XGT)可对微小部分进行*分析●采用大型样品室(460x360X150mm)●可在大气氛围中分析(采用真空探针方式)●装有CCD摄像机(放大倍数50倍)通过图像简单*分析区域 (同行业中*采用X射线和光学同轴照射式)●单键操作，简单方便●还可以对100μm的微小区域进行分析 (需要另选) 分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素Si～U(Cd/Pb*型)Na～U(任选：φ1.2 mm/φ0.1 mm切换方式型)检出下限(Cd/Pd)Cd≦2 ppm, Pb≦5 ppm样品形状460×360 mm(高150 mm)样品室气氛大气X射线管靶材Rh管电压50 kV管电流1 mAX射线照射径φ1.2 mm(任选：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切换)检测器高纯硅检测器 XEROPHY液氮罐容量3升液氮消耗量每日1升以下(不开机时不用)光学图像观察倍率 50倍(X射线同轴)软件定性分析：自动定性或手动定性定量分析：检量线法照射径0.1mm时 基础参数法 (1)标准法 (2)1点校正用户设定功能可以按照用户事先编好的条件，按照程序自动进行分析和定量分析计算机CPUPentium IV 1.8 GHz 以上内存256 MB 以上硬盘20 GB 以上OSWindows XP监视器17寸 CRT(任选：17寸 LED)打印机彩色喷墨打印机周围温度10～35 ℃(性能温度)/ 5～40 ℃(动作温度)周围湿度5～31 ℃时温度範囲：相対湿度80 %以下31～40 ℃时温度範囲：相対湿度50 %以下 電源AC 100 V、120 V、220 V、240 V ±10 %、50/60 Hz消耗电力1.3 kVA 以下(含计算机、CRT、打印机)设备重量约 265 kg(不含桌子、计算机)外形寸法分析部610(W)×750(D)×500(H)mm信号処理部220(W)×500(D)×480(H)mm XGT-1000WR采用了HORIBA多特的X射线聚焦元件,可以得到很细的高强度X射线束。和X射线准直器方式相比在分析时间和精度上都有大幅度的进步。另外在检测器上又采用了稳定性非常高的高纯硅检测器(世界)。可以实现多元素同时分析(Na～U)还备有φ0.1mm的X导管(任选件)可对微小部进行元素分析. 1 放置样品2 通过CCD*要分析的地方 将样品直接放日样品室。因为照射直径只有1.2mm即使是很小的样品也可以分析，而且操作简单任何人都可以简单操作。 多种塑料合成的结合部可以通过50倍CCD的放大来*准确的分析位置。3 按下分析健 4 *分析样品中的元素 分析只需要按一下键，仪器都是自动完成。 分析結果可以正确显示出来。※任选件：另外还备有φ1.2mm/φ0.1mm的XGT切换方式。 通过大型样品室和φ1.2mm的X射线组合，可以从小样品到大样品的广泛应用 (样品室尺寸 460×360×150mm)。另外通过*的光学设计，实现了X射线和CCD光学系统的同轴。即使样品表面有凹凸的样品也可以准确定位分析。 XGT-1000WR的同軸观察非同軸观察 ・WEEE：Waste Electrical and Electric Equipment（电气电子产品废弃物处理指令）欧共体EC175条例制定的废弃电气电子产品的回收再利用指令。这只是欧共体（EU）独立的法令，但在日本有可能更为严格需要引起注意。RoHS：Restriction of the use of certain Hazardous Substances in electrical and electric equipment（关于限制电器电子产品使用有害物质指令）欧共体EC95条例，限制电子产品使用含有以下有害物质的指令：铅/汞/镉/六价铬/PBB/PBDE。而在塑料中，为提高塑料的耐燃性很多厂家都要添加一些上述有害物质所以个别零件也需要检测。 ●采用HORIBA多种技术的XGT-1000WR实现了！ ●该产品针对的行业和产品如下。(依据RoHS指令限制产品一览)　大型家用电器产品小型家用电器产品IT・无线通讯产品民用机器照明设备电动工具玩具外形寸寸(単位：mm) 随使用方法可有多种配置