描述　　技术参数　　　　1、仪器尺寸：640（W）x474（D）x412（H）mm　　　　2、样品腔尺寸：　　　　小样品腔：300*300*100mm；　　　　大样品腔：无限制，小于30公斤　　　　3、重量：约50Kg　　　　4、工作环境温度：温度15—30℃　　　　5、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）　　　　6、可分析元素范围：K-U　　　　7、低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2　ppm，Pb≤5ppm　　　　8、测量时间：200-400s（系统自动调整）　　　　9、分辨率：149±5eV　　　　10、输入电源：AC　220V～240V，50Hz　　　　11、额定功率：300W　　　　　　　　　　　　　　1、探测器　　　　类型：电制冷Si-PIN探测器　　　　（采用PIN结构的*电致冷半导体探测器）　　　　规格：　　　　Be窗厚度：1mil　　　　DC5V电源供电，USB超高速信号输出，　　　　25平方面积晶体，信号处理稳定快速；　　　　分辨率能达到149eV；　　　　　　　　2、X光管　　　　电压：0~50　KV　　　　电流：1.0　mA　　　　功率：50　W　　　　灯丝电压：2.0V＆50　KV/1mA　　　　灯丝电流：1.7　A　　　　射线取出角：12°　　　　靶材：Mo　　　　Be窗厚度：0.5mm　　　　　　　　　　　　3高压电源　　　　　　　　输入电压：DC＋24V±10%　　　　　　　　输入电流：4.0A（）　　　　　　　　输出电压：0-50KV＆1mA　　　　　　　　功率：50W　　　　　　　　电压调整率：0.01%（从空载到满载）　　　　　　　　电流调整率：0.01%（从空载到满载）　　　　　　　　纹波系数：0.1%（P-P值）　　　　8小时稳定性：0.05%　　　　　　　　　　　　小样品腔尺寸（闭仓门测试）：300*300*100mm　　　　大样品腔尺寸（开仓门测试）：无限制，部分取代手持式功能