1MHz～3GHz，以100KHz分档·阻抗测量范围宽，从200mΩ到3KΩ·在低测度信号电平上具有优良的测量重复性·基本精度为1%·高速测量9msAgilent4287A射频测试仪　　Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz～3GHz频率范围可以提供精确，可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反向测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。生产率高，质量可靠　　4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外，在小测试电流(100μA)优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。系统组建简单　　测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件点测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能，高速GPIB处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。便于使用　　8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7 SMD测量夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作*夹具。技术指标（全面的技术指标参见数据资料表）测量参数：|Z||Y|θ-z（度/弧度）θ-y（度/弧度），*sLpCsCpRsRpQD（可同时显示4种测量参数）。测试频率：1MHz～3GHz频率分辨力：100KHz测试信号：V:4.47mV～502mV(f≤1GHz）; 4.47mV～447mv(f>1GHz)　　　　 I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)电平监视功能：电压，电流基本的Z精度：±1.0%测量范围：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%)测量时间：每点9ms（速）Rdc测量：可用于触点检查校准：开路/短路/负载/低损耗电容量补偿：开路/短路电长度大容量存储功能：30MB固态大容量存储或2GB硬盘（选择选件）接口：GPIB:LAN(10base-T/100base-Tx自动选择)，处理器接口显示：8.4英寸彩色LCD显示器一般指标电源要求：90V～132V或198V～264V47Hz～63Hz350VAmax工作温度/湿度:5℃～40℃相对湿度20%～80%尺寸：234mm高×425宽×445mm深（主机）重量：16kg/0.3kg（典型值）（主机/测试头）主要技术资料4287A射频LCR测试仪产品介绍，p/n 5968-5443E4287A技术指标：p/n 5968-5758ELCR测试仪，阻抗分析仪和测试夹具选购指南，p/n 5952-1430E订货信息4287A射频LCR测试仪供应的附件：测试头（1m），3.5～7mm适配器，16195B　APC-7校准配件，鼠标器，键盘，操作手册和电源线（4287A不提供测试夹具）　　选件001　删去16195B校准工具箱　　选件002　删去测试夹具座　　选件003　删去3.5mm～7mm适配器　　选件004 增加工作标准套件　　选件010 硬盘驱动大容量存储器　　选件011 固态大容量存储器　　选件020　增加电缆延伸套件可提供的附件16190B性能测试配件16195B校准工具箱16191A侧面电极夹具16192A平行电极夹具16193A小侧面电极夹具16194A高温测试夹具16196A用于1608(mm)的平行电极SMD夹具16196B用于1005(mm)的平行电极SMD夹具16196C用于0603(mm)的平行电极SMD夹具16197A底面电极夹具