多模式超声波测厚仪XC-T192基于超声波测量原理，可对金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他多种超声波的良导体材料进行厚度测量，也可实现对材料声速的反测。与传统的测量方法相比，超声波测厚仪的优势在于它只要接触到被测工件的一面即可完成测量，其的可穿透涂层测厚度的性能为表面涂有油漆或防腐材料的工件厚度检测提供了更加*的解决方案，测量前无需处理掉表面的涂层，可以直接测量。被广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等领域的生产设备中各种管道及压力容器腐蚀减薄程度的监测，也可用于对各种板材及各种加工零件做精确的测量。是提高生产效率与合格率、节约成本*的*精密仪器。

多模式超声波测厚仪XC-T192能用途

适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度具有两种测厚模式：发射-回波模式和回波-回波模式，可以穿透涂层进行厚度测量而不计入涂层厚度

具有探头零点校准、两点校准功能,可对系统误差进行自动修正

已知厚度可以反测声速，以提高测量精度

具有耦合状态提示功能

有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用

有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量

具有自动休眠、自动关机等节电功能

带有USB接口，可以方便、快捷地与PC机进行数据交换

可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用

可选择配备微机软件，具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能

本超声波测厚仪对厚度的测量，是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体，一部分超声信号被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，精确地计算超声波的往返时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。

H=v×t/2

式中：H－测量厚度

v－材料声速

t－超声波在试件中往返一次的传播时间

为确保探头正常工作，需使用耦合剂以隔绝探头表面与待测工件表面间的空气，这种液体用于探头及工件间的耦合，称之为耦合剂

环境温度：操作温度－20℃～＋50℃

存储温度：-30℃～＋70℃

相对湿度≤90％

周围环境无强烈振动、无强烈磁场、无腐蚀性介质及严重粉尘

多模式超声波测厚仪XC-T192特点

大容量存储，低功耗设计，可超长待机数月以上

已知厚度可以反测声速，满足多种材料的厚度检测需求

附带USB数据处理软件，可连接电脑进行数据分析、存储、打印等

可以兼容多种不同频率、不同晶片尺寸探头，自动识别高温、粗晶、小管径等不同探头类型

具有探头零点校准、两点校准功能,可对系统误差进行自动修正

配备窄脉冲复合材料晶片的*探头，盲区小、测量

有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用

设有自动休眠、自动关机等节电功能、剩余电量指示功能

小巧、便携、可靠性高，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰

H多模式超声波测厚仪XC-T192技术参数

测量范围发射-回波模式(0.65～600)mm（钢中，探头分段适用）；回波-回波模式下(3～60)mm（钢中，P5EE探头）

工作频率(2.5-7）MHZ

探头直径测厚探头NO5直径10MM、微晶探头N07直径6MM、高温探头HT5直径12MM、窄脉冲测厚探头P5EE直径10MM、粗晶探头直径12MM

小管径Φ15mm×2.0mm

分辨率0.1mm/0.01mm可选

示值误差±0.05mm（≤10mm时）；（±0.5%H+0.01）mm(>10mm时)；H为被测物厚度

测量周期单点测量时每秒钟7次、扫描模式每秒钟16次

显示高对比度的段码液晶显示（支持EL背光显示）

声速范围(1000~9999) m/s

测厚模式发射-回波模式（P-E）和回波-回波（E-E）模式

探头校准零点校准、两点校准

反测声速支持，可对已知厚度物体反测声速

显示模式单点测量、值测量和差值测量

单位制式公制（mm）或者英制（inch）

工作语言中文

存储可存储20组（每组多100个测量值）厚度测量数据

通讯接口USB1.1

数据打印连接电脑打印

供电3V（2节AA尺寸碱性电池）

节电方式具有自动屏幕待机、自动休眠、自动关机等节电功能

持续工作时间大于50小时（不开背光时）

环境温度操作温度－20℃～＋50℃；存储温度：-30℃～＋70℃

相对湿度≤90％

外壳材质ABS工程塑料

外型尺寸150mm×74mm×32 mm

整机重量1.3KG

1.一年质保，终身维护。

2.在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换。

3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应。

4.保证及时向用户以惠的价格提供所需的备品备件和易损件。

联系： :505220261 ：张爱

网址：www.xlc17.com