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TriStar II 系列高性能多通道全自动比表面与孔隙度分_全自动比表面分析仪

TriStar II 系列高性能多通道全自动比表面与孔隙度分_全自动比表面分析仪
TriStar II 系列高性能多通道全自动比表面与孔隙度分_全自动比表面分析仪

TriStarII是完全自动化并且含三个分析站的比表面积和孔隙度分析仪。它能够提高常规质控分析的速度和效率,同时拥有较高的精度、高分辨率和数据还原能力,以满足大多数研究需求。TriStarII也同时提供氪气选件,可以在非常低的比表面积范围内进行测量。该仪器还兼容多种分析方法和数据处理,用户可优化分析特定的应用。Micromeritics成立于1962年,总部位于美国佐治亚州诺克罗斯,是颗粒、粉末和多孔材料表征解决方案的供应商,在美国、英国、西班牙设有研发和生产基地,在美洲、欧洲、亚洲设有直销和售后服务,是15,000+个政府、企业和学术机构实验室的理想仪器。Micromeritics在比表面积与孔隙度、密度与体积、物理化学吸附、粒度与粒形、催化剂表征、粉体表征等核心领域中提供高性能的产品及应用技术与服务。品质、专业、便利,这就是Micromeritics!

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