博智伟业(深圳)科技有限公司是博智伟业(天津)科技有限公司的分公司，本公司是开发，生产 X荧光光谱仪的*厂家。公司的技术力量雄厚，核心团队成员均具有硕士以上学历。具有丰富经验的公司*将国内外的科研成果应用于生产中，使产品不断更新，以适应市场需求。除开发、生产 X射线荧光光谱仪以外，公司还努力开拓其他领域的业务，进行多元化发展。经过十多年的发展，在 X荧光光谱仪器领域积累了大量的经验和良好的声誉。能量色散 X荧光光谱仪是用 X荧光光谱法进行材料成分测定的一种仪器。被广泛应用于冶金，矿山，水泥，玻璃，石油，化工，医药，环保等行业和科研部门，是各种分析实验室的骨干设备之一。我们开发研制的台式X990，X2000，X3000型X荧光光谱仪分别己于1996年11月及2000年11月获天津市科委颁发的科技成果奖。小型台式 X光谱仪于1993年在国际高科技展览会上荣获金奖。研制的 X800，X4000型X荧光光谱仪，其性能已经完全达到国际水平。产品型号：x-3000产品详情： X-3000是一种体现X射线荧光分析技术进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。 整机技术规格 1．激发源：本机采用低功率 X 射线管（W靶），电压可达50KV，电流1mA 2．高压电源：50W，50KV，1mA 3．探测器：电制冷 Si PIN半导体探测器（55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV） 4．多道分析器：2048道 5．软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。定性分析包括：KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。 6．电源：交流220V 50Hz 7．体积：520mm x 600mm x 270mm 8．重量：约 42kg (主机) 整机技术性能 1．测量元素范围宽：从铝（13）至铀（92）都可测量 2．可测量含量范围，从ppm至 3．测量速度快，通常为几十秒到几分钟 4．多元素同时定性定量 5．蜂位漂移：八小时小于1% 进口探测器的性能指标 1．探测器类型：电制冷Si-PIN 2．探测面积：2.4x2.8mm（7mm2） 3．硅活化区厚度：300um 4．探测器分辨率： 对于55Fe，@5.9keV 对于12us的形成时间，半高宽为149Ev 5．探测器窗口：铍窗，25um厚 进口高压电源规格 1．电压和电流从零至满量程连续可调，50KV，1mA 2．电压调整率： 负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的 0.01 % 线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程的0.01% 3．电流调整率： 负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01% 线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01% 4．稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不超0.05% 5．温度系数：温度变化一度，电压变化不超过0.01%基本功能X-3600是一种体现X射线荧光分析技术进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍基本检测能力：X-3000可以精确测量的金属有Au Ag Pt Pb。还有贵金属及金属冶金产品里面的Ir，Cu，Zn，Ni，Fe，Si，Ca等。都可以测出准确含量。在首饰品的补口测量上，如补口成分大都为以上金属，不含有其它不常添加的稀有金属，测量结果也是准确的。X-3600在金属测量上分为几个方法。可随意选取。方法1：Au大于97%。（测量高含量黄金）方法2：Au大于75%。（测量18K以上，但含量又不是很足的黄金）方法3：Au小于75%。（测量低含量黄金）方法4：PtIr。（测量铂金，铂铱合金）方法5：Ag。（测量银）方法6：Pd。（测量钯金）如果测量未知金属可随意采用其中任意方法，只是测量结果会相对偏大。甚至有可能达到0.5%——1%。但是如果用相对应的方法，测量结果会比较准确。误差如下：方法1：（千分之一以内）方法2：（千分之一左右）方法3：（千分之三以内）方法4：（高含量如Pt95，Pt90，纯Pt等千分之一以内。低含量小于千分之三）方法5：（千分之二以内）方法6：（千分之二以内）强势功能1. 基本参数法对从铝（13号元素）至铀（92号元素）定性分析测量。 在不同的条件和环境下，仪器可以对从13号元素铝到92号元素铀实现定性测量。在标准样品满足条件的情况下大部分可实现定量测量。2．附带包金检测系统。 仪器自带的包金检测系统包括包金检测仪及测试分析软件。可以对各种包裹贵金属进行辨别和分析。3．样品室摄像头定位。 样品室内置500万像素自调焦摄像头。可清晰观测样品摆放位置，方便微小物品的摆放和测试。4．电制冷与内部水循环冷却相结合，可长时间工作。 能量色散X荧光光谱仪对工作温度的要求很高。测试结果会随温度的变化发生偏移。X-3600采用探测器电制冷与高压电源，X光管内部水循环冷却系统相结合，辅助科学的风道设计，把热量快速排出。保证仪器在长时间的工作下的稳定性，测试结果的准确性。5．峰位自动校准。 仪器采用合金校准片对仪器进行校准。比单一采用纯银校准片，不但可以校准仪器的峰位，还可以观察仪器线性的变化情况，对测试结果的准确性更有保证。6．双箱体结构，抗干扰能力强且方便硬件升级。 X-3600采用双箱体结构设计，探测器单元与控制电路分开放置，避免了电磁，脉冲等的相互干扰。保证了仪器工作的准确稳定。7．仪器工作方法任意开发。 仪器自带相关工作曲线，测试方法建立软件。客户可根据自身需要，以自己的样品为标准，修改仪器参数，更改工作方法，修订工作曲线。一旦颁布了新的标准，或者出现了新的首饰加工工艺（例如首饰厂商被允许添加一些新的金属在首饰里面），我们的仪器可以*更改测试方法，满足测试要求。而这些工作客户可以自行操作修改。在客户接受大概10小时左右的培训后，重新制定标准，修正仪器只需要大概30分钟时间。操作全部通过软件完成，非常人性化。8. 测试报表根据客户要求独立设计 仪器测试结果的打印报表可依据客户需求，为客户制作需要的表单样式。整机技术规格1．激发源：本机采用低功率X射线管（W靶），电压可达50KV，电流1mA2．高压电源：美国Spellman原装进口高压电源。3．探测器：美国Amptek原装进口电制冷Si-Pin半导体探测器（55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV）4．多道分析器：2048道5．软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。定性分析包括：KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。6．电源：交流220V50Hz7．体积：600mmx530mmx330mm8．重量：约 50kg (主机)进口探测器的性能指标1．探测器类型：电制冷Si-PIN2．探测面积：2.4x2.8mm（7mm2）3．探测器分辨率： 对于55Fe能量为5.9keV对于12us的形成时间，半高宽为139Ev4.硅活化区厚度：300um5.探测器窗口：铍窗，25um厚进口高压电源规格1．电压和电流从零至满量程连续可调，50KV，1mA2．电压调整率：负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的 0.01 %线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程的0.01%3．电流调整率：负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01% 线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01%4．稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不超0.05%5．温度系数：温度变化一度，电压变化不超过0.01% 产品说明、技术指标及特点:X-5600 是我司科研部门通过*无卤素化指令后，研发出来的一款专门针对RoHS和卤素的，具有世界技术水平的X射线荧光光谱仪。它采用*水制冷X光管作为激发源，有效的接收轻元素的特征射线；选用薄窗，电制冷硅半导体Si-PIN探测器为探测单元，在三级制冷系统下加强了数据接收功能；软件方面加上我们的分析方法，成功的解决了X荧光光谱分析仪检测卤素的难题，满足了广大客户对RoHS和卤素元素测量的要求。主要应用于五金，电子，塑料，玩具，PVC，陶瓷等行业。技术指标：型号：X-5600外型尺寸：600mm×530mm×330mm测量仓：220mm×200mm×150mm仪器重量：50公斤工作环境温度：0—35℃工作环境相对湿度：≤80%元素分析范围：氟（F）—铀（U）含量分析范围：1PPM—99.99%测量时间:30—180秒可调激发源：低功率X射线管（*光管）高压电源：美国Spellman原装进口高压电源探测器：美国Amptek原装进口电制冷Si-Pin半导体探测器仪器分辨率：55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV多道分析器：2048道软件：基于Windows的强大工作软件工作电源：交流220V 50Hz摄像：CCD光学镜头产品特点：操作界面简单，测量方便，快捷无损检测，在无标准样品时亦可准确分析采用139eV的*分辨率，保证数据测量的精度。能够检测卤族元素的精确含量内置高清晰摄像头，帮助客户判断测量的部位水冷型X光管配合光管保养程序，散热更好，并能有效延长X光管寿命三级冷却和双套*水冷系统，能保证长时间或者高温区域使用外观高贵时尚加大仪器内部空间仪器内部通风性优并有效屏蔽电磁干扰采用双峰位快速自动校准。自动谱线识别、多元素同时定性定量分析，让用户方便认识分析样品的组成基于Windows95/98/2000/XP的工作软件，使用户简单、方便地完成各项复杂的分析任务国际的定量分析算法，包括经验系数法、理论Q系数法（NBS-GSC法）、基本参数法等客户可根据自己的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法软件具有分析，显示，打印等功能设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。产品说明、技术指标及特点:X-5600 是我司科研部门通过*无卤素化指令后，研发出来的一款专门针对RoHS和卤素的，具有世界技术水平的X射线荧光光谱仪。它采用*水制冷X光管作为激发源，有效的接收轻元素的特征射线；选用薄窗，电制冷硅半导体Si-PIN探测器为探测单元，在三级制冷系统下加强了数据接收功能；软件方面加上我们的分析方法，成功的解决了X荧光光谱分析仪检测卤素的难题，满足了广大客户对RoHS和卤素元素测量的要求。主要应用于五金，电子，塑料，玩具，PVC，陶瓷等行业。技术指标：型号：X-5600外型尺寸：600mm×530mm×330mm测量仓：220mm×200mm×150mm仪器重量：50公斤工作环境温度：0—35℃工作环境相对湿度：≤80%元素分析范围：氟（F）—铀（U）含量分析范围：1PPM—99.99%测量时间:30—180秒可调激发源：低功率X射线管（*光管）高压电源：美国Spellman原装进口高压电源探测器：美国Amptek原装进口电制冷Si-Pin半导体探测器仪器分辨率：55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV多道分析器：2048道软件：基于Windows的强大工作软件工作电源：交流220V 50Hz摄像：CCD光学镜头产品特点：操作界面简单，测量方便，快捷无损检测，在无标准样品时亦可准确分析采用139eV的*分辨率，保证数据测量的精度。能够检测卤族元素的精确含量内置高清晰摄像头，帮助客户判断测量的部位水冷型X光管配合光管保养程序，散热更好，并能有效延长X光管寿命三级冷却和双套*水冷系统，能保证长时间或者高温区域使用外观高贵时尚加大仪器内部空间仪器内部通风性优并有效屏蔽电磁干扰采用双峰位快速自动校准。自动谱线识别、多元素同时定性定量分析，让用户方便认识分析样品的组成基于Windows95/98/2000/XP的工作软件，使用户简单、方便地完成各项复杂的分析任务国际的定量分析算法，包括经验系数法、理论Q系数法（NBS-GSC法）、基本参数法等客户可根据自己的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法软件具有分析，显示，打印等功能设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。