（一）产品优势

可进行镀层检测，检测层数范围1-6层；

平台移动范围可达160*160*100mm(X*Y*Z)；

激光定位和自动多点测量功能；

可检测固体、液体、粉末状态材料；

运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；

可进行未知标样扫描、无标样定性、半定量分析；

操作简单、无损、*、*、高稳定性，快速检测（5-40秒）；

端配置：SDD探测器、英国牛津X射线管、美国SPELLMAN高压电源

可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件；

软件终身免费升级；

无损检测，一次性购买标样可使用；

使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供*保姆式服务；

本设备可加环保RoHS分析功能，实现镀层、环保和成份分析同时检测。

（二）产品特征

1.**X荧光光谱仪（XRF）

2.计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）

3.Multi Ray.运用基本参数法（FP）软件，对样品进行精确的镀层厚度分析，可对镀液进行定量分析。

4.MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄膜镀层厚度测量

相对（比）模式无焦点测量DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用[如：Cu/ABS等]

双镀层应用[如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三镀层应用[如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四镀层应用[如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金镀层应[如：Ni-Zn/FeSn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]

5.Multi-Ray.快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

Multi-Ray金属行业精确定量分析软件。可同时分析8种元素。小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%，贵金属（8-24 Karat)分析精度可达±0.05kt

Multi-Ray.对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。

6.Multi-Ray WINDOWS 7软件操作系统

7.完整的统计函数均值、标准差、低/高读数，趋势线，Cp和 Cpk 因素等

8.自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量,自动多点分析。每个阶段的文件有多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。