光子辐射显微镜是为集成电路失效分析设计的Photoemission光子辐射定位系统,,可采集集成电路背部发射的红外光子,观察分析半导体的光子辐射,进而对半导体集成电路失效分析测试。

11111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111

孚光精仪（中国）有限公司，具体产品品牌可上我司网站上查询！质量保证 价格取胜 信誉地址：中国上海自由贸易区外高桥德堡路38号2幢楼 我们将尽全力为您提供优惠的价格及快捷细致的服务，希望能对您的工作有所帮助！更多产品详情请联系：小姐 15888888567。 孚光精仪（中国）有限公司是一家专注其他电子产品制造设备的企业，限时特惠上海进口光子辐射定位价格，查上海进口光子辐射定位价格，在光子辐射显微镜领域深耕十几年，对于光子辐射定位，有着敏锐的市场嗅觉，丰富的优化经验，扎实的技术团队。秉承互利互惠，合作双赢的理念，坚持客户至上，信誉的原则。致力于从多渠道，多方位，多平台为客户提供的光子辐射显微镜服务，并受到了客户的一致好评。

标准红外成像模式：可从集成电路背部透过硅观察集成电路(如下图1）

光发射成像模式：可观察集成电路元器件的光电发射辐射（如下图2）

上述两种图像可重叠起来,更好观测失效的电子元器件Z（如下图3）

图1：集成电路背部的红外成像图

图2： 光子辐射模式成像图

图3： 光子辐射图与红外成像图的叠加

光子辐射显微镜特点

非常适合集成电路背部光子辐射观测

快速工作能力，仅仅需要数百毫秒就可获得高质量光子辐射图像

可添加激光注入故障分析模块功能

多种相机供选择

光子辐射显微镜规格参数

光谱范围：900-1700nm

分辨率：640x512像素

像素大小：15um x 15um

制冷方式：TEC

3333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333

光子辐射显微镜是为集成电路失效分析设计的Photoemission光子辐射定位系统,,可采集集成电路背部发射的红外光子,观察分析半导体的光子辐射,进而对半导体集成电路失效分析测试。

光子辐射Photoemission视图可帮助用户定位工作中的集成电路晶体管,确定重要的有效区域,并确定执行故障注入和/或定位侧槽工具。

2222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222
进口电路失效分析_电路失效分析价格-孚光精仪（中国）有限公司

相关资讯查看>>