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三维光学形貌仪_白光干涉仪

高分辨率三维光学形貌仪,可在同一平台上结合多种光学成像技术对材料进行综合分析,可轻松测量材料的粗糙度、台阶高度、纹理、形状、厚度等。RtecInstruments形貌仪提供多种成像技术,可帮助客户轻松分析多种表面。在单个平台上测量从纳米到毫米的特征,通过单击自动测量粗糙度、波纹度、薄膜厚度、化学性质和原子结构来研究样品表面。亚纳米级三维形貌准确的Z轴控制和高分辨率XY平台,在亚纳米级范围内对粗糙、透明或光滑的表面进行测试。可集成共聚焦和白光干涉两种模式。半导体晶圆在300x300mm的超大平台上分析整个晶片、器件、薄膜缺陷、结构、台阶高度、厚度、颗粒等。同时也可结合同一区域的AFM、拉曼和光学形貌数据进行综合分析。质量控制(QC)一键查找裂纹和缺陷并自动生成报告,通过失效标准分析有助于该平台用于研发和质量控制。

微动试验机

用于纳米、微观和宏观范围测试的微动磨损试验机。主要规格:①行程5µm—5mm②频率高达300Hz③压电陶瓷传感器(高频)④电磁音圈为什么需要微动测试?接触面之间的微小振动运动会导致接触区中磨损碎屑的堆积,会显著加快磨损过程。微动磨损在一些应用中很常见,例如航空航天、汽车、机械、显示器和医疗设备。Rtec微动试验机可提供行业需要的冲程和频率规格。可控行程低至5μm,频率高达300Hz,已经逐渐成为公司和大学等研究机构研究摩擦磨损的理想试验机。

气流喷砂冲蚀试验机

主要特点:①符合ASTMG76、ASTMG211-14标准②砂粒速度测量③温度高达900°C④可选多种尺寸砂粒RtecInstruments气流喷砂冲蚀试验机AJ-1000可进行重复冲击测试。试验机使用装有磨料砂粒的气体,可在一定温度下(高达900°C)对样品进行冲蚀试验,具有温度闭环控制。AJ-1000通过将样品暴露于不同形状、大小、温度和冲击速度的不同磨料颗粒来评估不同材料和涂层的抗侵蚀能力。

3D划痕仪

概述3D划痕仪使用了超新的划痕头和高分辨率的3D形貌仪,能够让用户进行标准的划痕测试,并在测试前后自动进行亚纳米级的3D成像。划痕试验用于评估涂层和固体表面的粘附性和耐刮擦性。测试在受控的力下对样品表面进行划擦,划痕头在递增、恒定或台阶增力的载荷下沿着样品表面移动。通过检测摩擦力、位移和声发射等信号以及利用3D成像技术来检测涂层破损。3D划痕仪可测试透明、非透明、硬质涂层、生物材料、装饰涂料、光纤材料等,加载力范围涵盖微米级至宏观级别。检测结果主要包括机械性能(附着力、摩擦力、耐磨性、临界负载Lc1Lc2Lc3),3D形貌(粗糙度、涂层厚度、划痕体积、划痕深度等)。产品特点划痕头易于装换的划痕头,测试范围覆盖纳米级至宏观级。范围的选择取决于实际应用与客户需求,具有超高分辨率与低噪音,刚性设计与闭环控制可提供切确的载荷加载。在线形貌样品可自动移动到成像模块(AFM/白光干涉/共聚焦/光学显微镜),大磨痕自动拼接,创建一个完整的划痕图像。可测量陡峭的划痕斜率,透明涂层(玻璃等),以及粗糙度、磨损体积、失效形式等,具有亚纳米级分辨率。传感器与环境腔设备提供多种多样的传感器,包括声发射传感器、电接触电阻传感器、电容位移传感器、恒电位仪等;提供温度腔、湿度腔等。执行多个ASTM/ISO/DIN标准模块化设计,按需匹配模块执行多种标准。ISO20502、ISO1518、DINEN1071-3、ASTMC1624、ASTMD7187、ASTMD7027、ASTMG171等

摩擦磨损试验机

摩擦磨损试验机是一款多功能的通用摩擦机。采用模块化设计,可分析材料的摩擦、磨损和机械性能,可集成三维形貌仪。主要特点:可集成三维形貌仪加载范围纳米、微观、宏观温度范围从-120°C至1200°C可更换的测试模块涂层、润滑剂、材料表面和摩擦学研究RtecInstruments多功能摩擦磨损试验机MFT-5000是通用的摩擦机。MFT-5000配备获得专利的力传感器、环境控制范围广泛。可集成专利的三维形貌仪,可监测材料表面磨损形貌变化。MFT-5000可在同一平台上对摩擦、磨损、硬度、附着力等进行多方面和综合的分析。A:Z轴驱动系统高精度多重Z轴,可实现高精度加载、集成在线三维形貌及拉曼光谱检测B:开放式平台采用开放式平台设计,接入Z轴驱动可使工作区域更加广阔C:下部可更换的测试模块同一平台上可进行多项测试(旋转、往复、环块、微动、划痕等),快速更换模块,能够自动识别D:环境控制温度(-120至1200°C),湿度(5至95%RH),压力(200psi),真空(10-7torr)E:力学传感器在mN到12,000N的大范围可互换的力学传感器(电容式、压电式和应变式)F:在线三维形貌可自动成像,纳米级分辨率,具有四种光学成像模式(共聚焦+白光干涉+暗场+亮场)G:XY双向多功能平台行程130x270mm可实现样品在摩擦测试和形貌扫描位置间的准确定位及移动,用于样品的自动定位和位置设定。可用于中低速线性往复测试、划痕测试等H:数据采集/运动控制高速、低噪声、快速反馈控制器,数据采样频率可达200kHz

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