可提供手动的4镜头位置转塔和电控的5镜头位置转塔，可选择50X镜头获得激光斑点，也可选择5X镜头获得较大的激光斑点。激光故障注入系统是交钥匙系统该系统经过系统设计，到货即可实验!我们还可以根据用户应用订制该系统，我们还可以提供光电发射Photoemission和热激光刺激thermallasersimulation功能集成。激光故障注入系统特点可透过硅和激光斑点同时观察空间分辨率高达1微米可提供980nm激光或1064nm激光激光脉宽可从亚纳秒到连续波供用户选择时序精度高达8ps重复频率高达250MHZ透过率高达92%同轴红外IR视图功能自动扫描XYZ电控位移台芯片的背部红外视图和激光斑点激光故障注入系统规格参数激光器部分参数脉宽：5ns到连续波峰值功率：2W（可选10W)激光波长：980nm或1064nm重复频率：单发射到250MHZ控制命令接口：TTL/LVTTL光束质量：单模透过率：92%视图观察部分视图：高分辨率红外相机640x512um,140dB动态范围定位台部分轴数：XYZ三轴行程：52mm分辨率：0!

　　315um重复精度：+/-0！8um速度：20mm/s物镜部分5X,20X,50X333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333333激光故障注入系统可把激光点聚焦到芯片上,从后侧扫描样品,进而评估电子元器件的安全水平。

上海激光故障注入测试分析订购

　　激光故障注入系统具有1微米的激光点精度该系统集成的激光器经过特殊光路设计后，激光点可达1微米,透过率可达90%，PDM激光源（Pulse-On-DemandModule）可达极小的圆形光点，可聚焦到电子元器件的有效面积上!这套激光故障注入系统还可以根据用户要求，配备高分辨率XYZ三维位移台,支持样品扫描精度可达50nm!2222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222222!

高品质上海激光故障注入测试分析订购

　　这种激光器还可以根据实验需要提供1ns脉冲到连续波激光的变化,从单次发射脉冲到250MHZ的重复频率！根据不同的硅片或电路样品，我们可提供980nm或1064nm波长激光器，激光功率2W·10W。激光故障注入系统具有高质量红外视图该系统具有高质量红外光和红外成像功能,配备高分辨率IR红外相机,获得高质量的芯片图片，甚至可传统数百微米的硅片成像，还能同时看到在样品上移动的激光点！激光故障注入系统具有多种镜头可选择该系统可配备多种镜头，提供不同的焦距和光学图片质量，高数值孔径的镜头提供更高分辨率和透过率。

　　激光故障注入系统是为集成电路安全性评估设计的laserfaultinjection系统和激光故障注入显微镜,方便对集成电路进行激光故障注入测试分析.1111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111激光故障注入系统采样激光器该系统采样的激光器具有超高时序控制精度，时间抖动8皮秒,对于激光注入到电路板上的同步控制非常重要。